{"id":15293,"date":"2024-09-17T10:04:27","date_gmt":"2024-09-17T08:04:27","guid":{"rendered":"https:\/\/dev.shimadzu-testing.com\/?p=15293"},"modified":"2025-02-05T10:46:55","modified_gmt":"2025-02-05T09:46:55","slug":"maivis-miv-x-ultrasonic-optical-flaw-detector-3","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/shimadzu-testing.com\/de\/unternehmen\/nachrichten-ereignisse-presse\/press\/maivis-miv-x-ultrasonic-optical-flaw-detector-3\/","title":{"rendered":"MAIVIS MIV-X - Optisches Ultraschall-Fehlerpr\u00fcfger\u00e4t"},"content":{"rendered":"<div data-elementor-type=\"wp-post\" data-elementor-id=\"15293\" class=\"elementor elementor-15293\" data-elementor-post-type=\"post\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-f279f52 e-flex e-con-boxed e-con e-parent\" data-id=\"f279f52\" data-element_type=\"container\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"e-con-inner\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-06aaf77 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"06aaf77\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"heading-normal\"><strong>Tiefer gehen \/ besser sehen: neue Inspektionstechnik macht Fehler unter der Oberfl\u00e4che visuell sichtbar<\/strong><\/p><ul class=\"list-with-hyphen\"><li>Die optische Ultraschall-Fehlererkennung ist eine fortschrittliche, neue Methode der Oberfl\u00e4chenanalyse von Shimadzu.<\/li><li>MIV-X nutzt diese zerst\u00f6rungsfreie Technik, um Fehler auf - und sogar unter - der Oberfl\u00e4che zu erkennen.<\/li><li>MIV-X erkennt nicht nur Risse, Hohlr\u00e4ume, Delaminationen usw., sondern zeigt sie auch visuell an.<\/li><li>MIV-X bietet au\u00dferdem intuitive Benutzerfreundlichkeit, Einfachheit und Schnelligkeit zur Steigerung der Laborleistung.<\/li><\/ul><div>\u00a0<\/div><p class=\"paragraph\">Shimadzu, ein weltweit f\u00fchrender Anbieter von analytischen Mess- und Pr\u00fcfger\u00e4ten, gibt die europ\u00e4ische Markteinf\u00fchrung seines neuen optischen Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4ts bekannt: MIV-X. Im Gegensatz zu herk\u00f6mmlichen Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4ten zeigt MIV-X Fehler sowohl auf als auch unter der Oberfl\u00e4che an. Das MIV-X bietet au\u00dferdem eine klare Visualisierung der entdeckten Fehler - eine weitere Verbesserung gegen\u00fcber herk\u00f6mmlichen Systemen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-a1eb732 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"a1eb732\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>Ausgepr\u00e4gte Vorteile des MIV-X<\/strong><\/p><ul class=\"list-with-hyphen\"><li><strong>Verbessert die Inspektion von oberfl\u00e4chennahen und oberfl\u00e4chennahen Bereichen<\/strong><br \/>Herk\u00f6mmliche Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4te liefern gute Ergebnisse ab 1-5 mm, w\u00e4hrend das MIV-X den Ausgangspunkt der genauen Wahrnehmung leicht auf die Oberfl\u00e4che verlagert. Dies macht es ideal f\u00fcr die Analyse von Abl\u00f6sungen von Beschichtungen.<\/li><li><strong>Vergr\u00f6\u00dfert den Bereich der Chargenpr\u00fcfung<\/strong><br \/>Herk\u00f6mmliche Techniken inspizieren nur einen begrenzten Bereich, w\u00e4hrend der MIV-X das gesamte Sichtfeld der Kamera nutzt, um den Inspektionsbereich zu definieren. Dies vergr\u00f6\u00dfert das Beobachtungsfeld auf bis zu 400 x 600 mm und verk\u00fcrzt die Gesamtpr\u00fcfzeit.<\/li><li><strong>Beseitigt Probleme mit Unterschieden in der akustischen Impedanz<\/strong><br \/>Herk\u00f6mmliche Ger\u00e4te sind bei der Pr\u00fcfung von Materialien mit unterschiedlicher akustischer Impedanz eine Herausforderung. Das MIV-X \u00fcberwindet erfolgreich die Impedanzherausforderung und erkennt pr\u00e4zise Defekte in Proben aus mehreren Materialien<\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-20c9d37 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"20c9d37\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>MIV = Mach es sichtbar<\/strong><\/p><p class=\"paragraph\">Das MAIVIS-MIV-X nutzt eine neue, von Shimadzu entwickelte Lichtbildtechnik, um versteckte Defekte sichtbar zu machen. Durch die Kombination eines Ultraschallschwingers mit einem Stroboskop wird der Zielbereich sowohl mit kontinuierlichen Ultraschallwellen als auch mit Laserlicht bestrahlt. Durch die Beobachtung des Pr\u00fcfbereichs mit einer Kamera wird jede mikroskopische Verschiebung der Oberfl\u00e4che oder oberfl\u00e4chennahen Fl\u00e4che mit Hilfe der Shearografie (Speckle Pattern Shearing Interferometry) einfach und zerst\u00f6rungsfrei erkannt. Anhand der daraus resultierenden Diskontinuit\u00e4t der Ultraschallwelle k\u00f6nnen eventuelle Fehler auf dem Display sichtbar gemacht werden.<\/p><p class=\"paragraph\">Diese optische Ultraschall-Fehlererkennung erm\u00f6glicht die Visualisierung von inneren Fehlern, die mit herk\u00f6mmlicher Ultraschallpr\u00fcfung nur schwer zu finden sind - bis zu einer Tiefe von ca. 1 mm - einschlie\u00dflich des Abbl\u00e4tterns von Klebe- und Haftfl\u00e4chen heterogener Materialien sowie von Lacken, thermischen Sprays und Beschichtungen. Au\u00dferdem lassen sich mit dem Ger\u00e4t leicht Fehler in Fugen und Klebefl\u00e4chen in Forschungs- und Entwicklungsprozessen mit Multimaterialien erkennen, die durch die Kombination verschiedener Materialien zur Erh\u00f6hung der Festigkeit und zur Gewichtsreduzierung entstehen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-22f771e elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"22f771e\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>Leistungsstarke Anwendungen f\u00fcr Industrie und F&amp;E<\/strong><\/p><p class=\"paragraph\">Aufgrund des erweiterten Umfangs, der Tiefe und der Geschwindigkeit der Analyse bietet der MIV-X zahlreiche Vorteile f\u00fcr Industrie- und Forschungsanwendungen in Bereichen wie Materialien, Chemie, Elektrotechnik, Elektronik, Halbleiter, Verkehr und Infrastruktur. Dazu geh\u00f6ren:<\/p><ul class=\"list-with-hyphen\"><li><em>Inspektion von Verbindungen in unterschiedlichen Materialien<\/em><\/li><li><em>Inspektion von Rissen in einem Grundmaterial unter einer Folie<\/em><\/li><li><em>Inspektion der Delamination der Klebefl\u00e4che zwischen CFK und rostfreiem Stahl<\/em><\/li><li><em>Inspektion der Delamination der Klebefl\u00e4che zwischen CFK und Titanlegierung<\/em><\/li><\/ul><p class=\"paragraph\">erkennt Fehler in Verbindungen und Klebefl\u00e4chen in Forschungs- und Entwicklungsprozessen mit Multimaterialien, die durch die Kombination verschiedener Materialien zur Erh\u00f6hung der Festigkeit und Gewichtsreduzierung entstehen.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-54f2cce elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"54f2cce\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>Zus\u00e4tzliche hochwertige Merkmale<\/strong><\/p><ul class=\"list-with-hyphen\"><li>Die <strong>Ger\u00e4uschentfernung<\/strong> Funktion vereinfacht die Fehleridentifizierung und liefert ein klares, hochaufl\u00f6sendes Bild der Defekte.<\/li><li>Die <strong>Ma\u00dfanzeige und Kennzeichnung<\/strong> Die einfache Benutzeroberfl\u00e4che und clevere Hilfsmittel wie eine Anzeigeskala (Lineal) erm\u00f6glichen eine einfache und eindeutige Darstellung der Ergebnisse.<\/li><li>Die fakultative <strong>Optisches Zoom-Set<\/strong> erm\u00f6glicht die Visualisierung noch kleinerer Defekte, indem die minimale Erfassungsgr\u00f6\u00dfe um etwa den Faktor zwei verringert wird (MIV-X-Standard: von etwa 1 mm Durchmesser auf 0,5 mm Durchmesser). Au\u00dferdem kann die optische Achse des Lasers eingestellt werden, was die Gleichm\u00e4\u00dfigkeit der Bestrahlung verbessert.<\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-8411335 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"8411335\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>\u00dcber konventionelle L\u00f6sungen hinausgehen<\/strong><\/p><p class=\"paragraph\">Das optische Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4t MIV-X von Shimadzu detektiert und visualisiert Risse, Hohlr\u00e4ume, Delaminationen und andere verborgene Fehler in Bereichen, in denen eine Ultraschallpr\u00fcfung schwierig ist und die normalerweise nicht visuell gepr\u00fcft werden k\u00f6nnen. Mit dem MIV-X kann jeder schnell und einfach eine visuelle Pr\u00fcfung von Oberfl\u00e4chen und oberfl\u00e4chennahen Bereichen durchf\u00fchren. Diese und andere vorteilhafte Eigenschaften machen das MIV-X zum neuen Referenzger\u00e4t f\u00fcr die schnelle, genaue und einfache Fehlererkennung an der Oberfl\u00e4che und darunter. Es ist eine weitere hilfreiche Innovation von Shimadzu.<\/p><p>\u00a0<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-935a7ba elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"935a7ba\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p class=\"paragraph\"><strong>Web-Zusammenfassung<\/strong><\/p><p class=\"paragraph\">Shimadzu hat gerade das optische Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4t MIV-X in Europa eingef\u00fchrt. Anders als herk\u00f6mmliche Ultraschallpr\u00fcfsysteme erkennt und visualisiert das MIV-X Risse, Hohlr\u00e4ume, Delaminationen und andere verborgene Fehler in Bereichen, in denen die Ultraschallpr\u00fcfung schwierig ist und die normalerweise nicht visuell gepr\u00fcft werden k\u00f6nnen. Der MIV-X bietet auch eine klare Visualisierung der entdeckten Fehler. Mit dem MIV-X kann jeder schnell und einfach eine visuelle Pr\u00fcfung von Oberfl\u00e4chen und oberfl\u00e4chennahen Bereichen durchf\u00fchren. Diese und andere Vorteile machen den MIV-X zum neuen Referenzger\u00e4t f\u00fcr die schnelle, genaue und einfache Fehlererkennung an der Oberfl\u00e4che und darunter.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-f962784 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"f962784\" data-element_type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p>Web-Link: <br \/><a href=\"https:\/\/www.shimadzu.eu\/see-the-invisible\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">https:\/\/www.shimadzu.at<\/a><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Shimadzu, ein weltweit f\u00fchrender Anbieter von analytischen Mess- und Pr\u00fcfger\u00e4ten, gibt die europ\u00e4ische Markteinf\u00fchrung seines neuen optischen Ultraschallpr\u00fcfger\u00e4ts bekannt: MIV-X. 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